May 21, 2026
JESD22-A110国際的に認められた高加速温度湿度ストレステスト (HAST) 規格です.電子部品 (特にチップ) の耐腐蝕性および長期的信頼性を高温の同時効果下で迅速に評価するために設計されたもの湿度が高いため,電圧偏差があります.
2つの標準試験条件:
条件A (130°C/85%RH,96時間) は,業界が好む試験条件である. this is the standard testing condition defined in the JESD22-A110 standard and also the preferred solution for the vast majority of semiconductor manufacturers when conducting product quality certification高速加速因子は,可能な限り短時間で (通常は96時間) 潜在的な欠陥を効果的に暴露することができます.
2.条件B (110°C/85%RH,264時間) の適用可能なシナリオ:主に高消費電力と自熱が容易な装置に使用される.これは,130°Cの試験環境では,装置自体の動作によって発生する熱は,その実際の温度が仕様書に規定されている最大交差点温度をはるかに上回る可能性があります.したがって,より穏やかな110°C条件を選択し,試験時間を264時間まで適切に延長することは,より合理的な評価方法である.
DJESD22試験条件下における偏差と偏差がない間の差:
バイアスのあるHASTテストとバイアスのない他の一般的なテスト (JESD22-A118, UHAST) の主な違いとは,
JESD22-A110 (HAST): 試験中に,チップは主に"電気化学+湿度"の組み合わせ効果を評価するために電源を入れます.
JESD22-A118 (UHAST): 試験中に電源がないため,主に包装材料そのものの"水分吸収"および"脱層"リスクを評価する.
