JESD22-A110è uno standard riconosciuto a livello internazionale per la prova di stress a temperatura elevata di accelerazione e umidità (HAST),con un'ampiezza massima di 20 mm o più, ma non superiore a 30 mm,, elevata umidità e bias di tensione.
Due condizioni di prova standard:
La condizione A (130 °C/85% RH, 96 ore) è la condizione di prova preferita dall'industria: this is the standard testing condition defined in the JESD22-A110 standard and also the preferred solution for the vast majority of semiconductor manufacturers when conducting product quality certificationIl suo elevato fattore di accelerazione permette di individuare efficacemente i potenziali difetti nel minor tempo possibile (di solito 96 ore).
2.Scenari applicabili per la condizione B (110 °C/85% RH, 264 ore): utilizzati principalmente per apparecchi con elevato consumo energetico e facile auto riscaldamento.il calore generato dal proprio funzionamento del dispositivo può far superare di gran lunga la temperatura effettiva della temperatura massima di giunzione specificata nelle specifichePertanto, la scelta di una condizione più mite a 110 °C e l'adeguata estensione del tempo di prova a 264 ore è un metodo di valutazione più ragionevole.
Ddifferenze tra bias e assenza di bias in condizioni di prova JESD22:
La differenza principale tra la caratteristica principale del test HAST con bias e un altro test comune senza bias (JESD22-A118, UHAST) è:
JESD22-A110 (HAST): durante la prova, il chip viene acceso per valutare principalmente l'effetto combinato di "elettrochimia+umidità".
JESD22-A118 (UHAST): durante la prova, non vi è alimentazione, valutando principalmente i rischi di "assorbimento dell'umidità" e di "delaminazione" del materiale di imballaggio stesso
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