May 21, 2026
JESD22-A110هو معايير اختبار الإجهاد عالية التسارع في درجة الحرارة والرطوبةتم تصميمها خصيصا لتقييم بسرعة مقاومة التآكل وموثوقية طويلة الأجل للمكونات الإلكترونية (وخاصة الرقائق) تحت الآثار المتزامنة لدرجة الحرارة العالية،رطوبة عالية، وتحيز الجهد.
شرطان اختبار معياريان:
الحالة (أ) (130 درجة مئوية / 85 ٪ RH ، 96 ساعة) هي حالة الاختبار المفضلة في الصناعة: this is the standard testing condition defined in the JESD22-A110 standard and also the preferred solution for the vast majority of semiconductor manufacturers when conducting product quality certificationعامل تسريعها العالي يمكن أن يظهر بشكل فعال العيوب المحتملة في أقصر وقت ممكن (عادة 96 ساعة).
2.Applicable scenarios for condition B (110 ° C/85% RH, 264 hours): mainly used for devices with high power consumption and easy self heating. هذا هو لأن في بيئة اختبار من 130 ° C،الحرارة المولدة عن طريق تشغيل الجهاز نفسه قد تسبب درجة حرارته الفعلية لتتجاوز بكثير الحرارة القصوى المحددة في المواصفات، مما أدى إلى فشل غير حقيقي. لذلك، اختيار أكثر اعتدالاً 110 درجة مئوية الظروف وتوسيع وقت الاختبار بشكل مناسب إلى 264 ساعة هو أسلوب تقييم أكثر معقولة.
دالفرق بين التحيز و عدم التحيز تحت ظروف الاختبار JESD22:
The main difference between the core feature of HAST testing with bias and another common test without bias (JESD22-A118, UHAST) is: الفرق الرئيسي بين اختبار HAST مع التحيز و اختبار آخر شائع بدون تحيز (JESD22-A118, UHAST) هو:
JESD22-A110 (HAST): أثناء الاختبار، يتم تشغيل الشريحة لتقييم الأساسية للتأثير المشترك لـ "الكيمياء الكهربائية + الرطوبة".
(JESD22-A118)يوأثناء الاختبار، لا يوجد إمدادات كهربائية، أساساً تقييم مخاطر "امتصاص الرطوبة" و "التشويش" من مواد التعبئة الذاتية
