JESD22-A110é um padrão de teste de estresse de umidade e temperatura de alta aceleração (HAST) reconhecido internacionalmente, projetado especificamente para avaliar rapidamente a resistência à corrosão e a confiabilidade de longo prazo de componentes eletrônicos (especialmente chips) sob os efeitos simultâneos de alta temperatura, alta umidade e polarização de tensão.
Duas condições de teste padrão:
A condição A (130°C/85% UR, 96 horas) é a condição de teste preferida da indústria: esta é a condição de teste padrão definida no padrão JESD22-A110 e também a solução preferida para a grande maioria dos fabricantes de semicondutores ao realizar a certificação de qualidade do produto. Seu alto fator de aceleração pode expor efetivamente defeitos potenciais no menor tempo possível (geralmente 96 horas).
2.Cenários aplicáveis para condição B (110°C/85% UR, 264 horas): utilizados principalmente para dispositivos com alto consumo de energia e fácil autoaquecimento. Isso ocorre porque em um ambiente de teste de 130°C, o calor gerado pela própria operação do dispositivo pode fazer com que sua temperatura real exceda em muito a temperatura máxima de junção especificada nas especificações, resultando em falha não real. Portanto, escolher uma condição mais amena de 110°C e estender adequadamente o tempo de teste para 264 horas é um método de avaliação mais razoável.
Ddiferença entre viés e nenhum viés sob condições de teste JESD22:
A principal diferença entre o recurso principal do teste HAST com viés e outro teste comum sem viés (JESD22-A118, UHAST) é:
JESD22-A110 (HAST): Durante o teste, o chip é ligado para avaliar principalmente o efeito combinado de "eletroquímica+umidade".
JESD22-A118 (VocêHAST): Durante os testes, não há fonte de alimentação, avaliando principalmente os riscos de "absorção de umidade" e "delaminação" do próprio material de embalagem
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