Detail tentang industri JESD22-A110 yang terlibat dalam HAST TEST CHAMBER

JESD22-A110adalah standar pengujian stres kelembaban suhu akselerasi tinggi (HAST) yang diakui secara internasional, dirancang khusus untuk mengevaluasi dengan cepat ketahanan korosi dan keandalan jangka panjang komponen elektronik (terutama chip) di bawah pengaruh suhu tinggi, kelembaban tinggi, dan bias tegangan secara bersamaan.

Dua kondisi pengujian standar:

Kondisi A (130 ° C/85% RH, 96 jam) adalah kondisi pengujian pilihan industri: ini adalah kondisi pengujian standar yang ditentukan dalam standar JESD22-A110 dan juga solusi pilihan bagi sebagian besar produsen semikonduktor ketika melakukan sertifikasi kualitas produk. Faktor akselerasinya yang tinggi dapat secara efektif mengungkap potensi cacat dalam waktu sesingkat mungkin (biasanya 96 jam).

2.Skenario yang berlaku untuk kondisi B (110 ° C/85% RH, 264 jam): terutama digunakan untuk perangkat dengan konsumsi daya tinggi dan pemanasan mandiri yang mudah. Hal ini karena dalam lingkungan pengujian 130 ° C, panas yang dihasilkan oleh pengoperasian perangkat itu sendiri dapat menyebabkan suhu sebenarnya jauh melebihi suhu sambungan maksimum yang ditentukan dalam spesifikasi, sehingga mengakibatkan kegagalan yang tidak nyata. Oleh karena itu, memilih kondisi 110°C yang lebih ringan dan memperpanjang waktu pengujian hingga 264 jam secara tepat adalah metode evaluasi yang lebih masuk akal.

Dperbedaan antara bias dan tidak ada bias dalam kondisi pengujian JESD22:

Perbedaan utama antara fitur inti pengujian HAST dengan bias dan pengujian umum lainnya tanpa bias (JESD22-A118, UHAST) adalah:

JESD22-A110 (HAST): Selama pengujian, chip dinyalakan terutama untuk menilai efek gabungan "elektrokimia+kelembaban".

JESD22-A118 (kamuHAST): Selama pengujian, tidak ada catu daya, terutama menilai risiko "penyerapan kelembaban" dan "delaminasi" dari bahan kemasan itu sendiri