JESD22-A110ist ein international anerkannter Standard für Hochbeschleunigungstemperatur-Feuchtigkeits-Stresstests (HAST),speziell konstruiert zur schnellen Bewertung der Korrosionsbeständigkeit und langfristigen Zuverlässigkeit elektronischer Komponenten (insbesondere Chips) unter gleichzeitiger Wirkung hoher Temperaturen, hohe Luftfeuchtigkeit und Spannungsverzerrung.
Zwei Standardprüfbedingungen:
Die Bedingungen A (130 °C/85% RH, 96 Stunden) sind die von der Industrie bevorzugten Prüfbedingungen: this is the standard testing condition defined in the JESD22-A110 standard and also the preferred solution for the vast majority of semiconductor manufacturers when conducting product quality certificationDer hohe Beschleunigungsfaktor kann mögliche Defekte in kürzester Zeit (in der Regel 96 Stunden) effektiv aufdecken.
2.Anwendbare Szenarien für den Zustand B (110 °C/85% RE, 264 Stunden): hauptsächlich für Geräte mit hohem Stromverbrauch und leichter Selbstheizung verwendet.die durch den eigenen Betrieb der Vorrichtung erzeugte Wärme kann dazu führen, dass ihre tatsächliche Temperatur die in den Spezifikationen angegebene Höchstverbindungstemperatur weit übersteigt.Daher ist die Wahl eines milderen 110°C-Zustands und eine angemessene Verlängerung der Prüfzeit auf 264 Stunden eine vernünftigere Bewertungsmethode.
DDifferenz zwischen Verzerrung und Nichtverzerrung unter JESD22-Prüfbedingungen:
Der Hauptunterschied zwischen dem Kernmerkmal des HAST-Tests mit Verzerrung und einem anderen üblichen Test ohne Verzerrung (JESD22-A118, UHAST) besteht darin:
JESD22-A110 (HAST): Während der Prüfung wird der Chip eingeschaltet, um in erster Linie die kombinierte Wirkung von "Elektrochemie+Feuchtigkeit" zu bewerten.
JESD22-A118 (UHAST): Während der Prüfung gibt es keine Stromversorgung, wobei hauptsächlich die Risiken der "Feuchtabsorption" und der "Delamination" des Verpackungsmaterials selbst bewertet werden
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