UP-6124 ห้องทดสอบการเฒ่าอย่างเร่งรัดสูง มีความมั่นคงในอุณหภูมิ ± 0.5 °C ระยะ 105 °C ~ 143 °C และ 1.2 ~ 2.89 kg/cm2 ความดัน

ห้องทดสอบความเครียดอุณหภูมิและความชื้นแบบเร่งสูง ได้รับการออกแบบมาเพื่อประเมินความน่าเชื่อถือของชิ้นส่วนและผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์ ด้วยการสร้างสภาพแวดล้อมที่รุนแรง รวมถึงอุณหภูมิสูง (105°C ถึง 155°C) ความชื้นสูง (65% ถึง 100% RH) และแรงดันสูง (0.2 ถึง 4.0 กก./ซม.²) ในภาชนะที่ปิดสนิท ห้องนี้ช่วยเร่งกระบวนการเสื่อมสภาพและความล้มเหลวของวัสดุภายในกรอบเวลาอันสั้น (โดยทั่วไปคือวันหรือสัปดาห์) การทดสอบอย่างรวดเร็วนี้เผยให้เห็นถึงข้อบกพร่องของผลิตภัณฑ์ที่อาจเกิดขึ้นและคาดการณ์อายุการใช้งานภายใต้สภาวะการใช้งานปกติ

เครื่องทดสอบอายุแบบเร่งด้วยแรงดันนี้ใช้กันอย่างแพร่หลายในการทดสอบคุณสมบัติการปิดผนึกของ:

• แผงวงจรหลายชั้น
• แพคเกจปิดผนึก IC
• หน้าจอ LCD และส่วนประกอบ LED
• เซมิคอนดักเตอร์
• วัสดุแม่เหล็กรวมทั้ง NdFeB
• วัสดุหายากและเหล็กแม่เหล็ก

ห้องทดสอบจะทดสอบความต้านทานต่อแรงกดและความแน่นหนาของอากาศสำหรับผลิตภัณฑ์เหล่านี้ได้อย่างมีประสิทธิภาพ

เราให้บริการที่ปรึกษาการขายแบบครบวงจรตลอดกระบวนการทางธุรกิจทั้งหมด:

เราหารือเกี่ยวกับข้อกำหนดในการทดสอบและรายละเอียดทางเทคนิค แนะนำผลิตภัณฑ์ที่เหมาะสม และเสนอราคาที่แข่งขันได้ตามข้อกำหนดของลูกค้า

เราสร้างภาพวาดโดยละเอียดสำหรับข้อกำหนดที่กำหนดเอง จัดเตรียมรูปถ่ายอ้างอิงสำหรับรูปลักษณ์ของผลิตภัณฑ์ และสรุปโซลูชันและราคา

เครื่องจักรผลิตขึ้นตามข้อกำหนด PO ที่ได้รับการยืนยันแล้ว เราจัดเตรียมรูปถ่ายความคืบหน้าของการผลิต ดำเนินการสอบเทียบจากโรงงานหรือบุคคลที่สาม ทำการทดสอบขั้นสุดท้าย และจัดเตรียมบรรจุภัณฑ์ที่ปลอดภัยและการส่งมอบตรงเวลา

เราให้บริการติดตั้งภาคสนามและการสนับสนุนหลังการขายที่ครอบคลุมเพื่อให้มั่นใจถึงประสิทธิภาพสูงสุด